# Forward and Inverse Virtual Metrology for Phototransistor Gain: A Hierarchical, Uncertainty-Aware Approach for Small Production Datasets

> Quelle: arXiv cs.LG — https://arxiv.org/abs/2608.11868

## Maßnahmen

- [ ] Betroffenheit im eigenen Stack prüfen: Versionen/Komponenten abgleichen.
- [ ] Originalquelle / Hersteller-Advisory lesen: https://arxiv.org/abs/2608.11868
- [ ] Verfügbaren Patch oder Workaround einspielen und dokumentieren.